TÉCNICAS DE IDENTIFICAÇO DA ESTRUTURA E COMPOSIÇO DE MATERIAIS
Palavras-chave:
Espectroscopia, Infravermelho, Difração, Raios-XResumo
ESTE TRABALHO TEM POR OBJETIVO APRESENTAR AOS ESTUDANTES E PESQUISADORES DA �REA DE CI�NCIA E ENGENHARIA DE MATERIAIS UMA REVISÃO BIBLIOGR�FICA DOS PRINC�PIOS B�SICOS DE FUNCIONAMENTO DE DUAS IMPORTANTES FERRAMENTAS PARA INVESTIGAR A COMPOSI��O E NATUREZA DOS MATERIAIS: A ESPECTROSCOPIA NO INFRAVERMELHO E A DIFRA��O DE RAIOS-X. A PRIMEIRA SE BASEIA NO FATO DE QUE AS LIGA��ES QU�MICAS DAS SUBST�NCIAS POSSUEM FREQU�NCIAS DE VIBRA��O ESPEC�FICA, AS QUAIS CORRESPONDEM A N�VEIS DE ENERGIA DA MOL�CULA. SE A MOL�CULA RECEBER RADIA��O ELETROMAGN�TICA COM 'EXATAMENTE' A MESMA ENERGIA DE UMA DESSAS VIBRA��ES, ENT�O A LUZ SER� ABSORVIDA, E A QUANTIDADE DESTA ENERGIA ABSORVIDA PELA AMOSTRA D� A POSSIBILIDADE DE INVESTIGAR A COMPOSI��O DO MATERIAL. J� A T�CNICA DA DIFRA��O DE RAIOS-X UTILIZA UM FEIXE DE RAIOS, QUE TEM COMPRIMENTO DE ONDA DA MESMA ORDEM QUE O �TOMO, PARA INCIDIR SOBRE A AMOSTRA. ASSIM, ESTE RAIO (PART�CULA-ONDA), QUANDO REFLETIDO CONSTRUTIVAMENTE, � CAPTADO PELO APARELHO QUE FAZ A LEITURA DAS POSI��ES ONDE SE ENCONTRAM OS �TOMOS E ASSIM IDENTIFICANDO OS PLANOS CRISTALOGR�FICOS E CONSEQUENTEMENTE A ESTRUTURA CRISTALINA QUE FORMA O MATERIAL DA AMOSTRA. ESTA T�CNICA FOI A PRINCIPAL FERRAMENTA USADA POR WATSON E CRICK, EM 1953, PARA PROPOR A ESTRUTURA EM DUPLA H�LICE DO DNA.
