ANÁLISE DE FALHAS NA SUPERFÍCIE ATIVA DE INSTRUMENTOS DE NÍQUEL-TITAÌ‚NIO DO SISTEMA BIORACE DETECTADA POR MEIO DA MICROSCOPIA ELETRÀ”NICA DE VARREDURA

Resumo

OBJETIVO: ANALISAR FALHAS DE FABRICA��O NA SUPERF�CIE ATIVA DE DIFERENTES INSTRUMENTOS DE N�QUEL-TIT�NIO POR MEIO DA MICROSCOPIA ELETR�NICA DE VARREDURA. MATERIAL E M�TODO: FORAM ANALISADOS UM TOTAL DE 33 INSTRUMENTOS ENDOD�NTICOS DE NIÌQUEL-TITAÌ‚NIO, DISTRIBU�DOS EM DOIS GRUPOS EXPERIMENTAIS DE ACORDO COM A PROCED�NCIA: G1 - SISTEMA PROTAPER NEXT^�® DE 25MM DE COMPRIMENTO, SENDO ANALISADOS 03 KITS DE 05 INSTRUMENTOS DE NITI CADA (X1 - 17/0.04; X2 - 25/0.06; X3 - 30/0.07; X4 - 40/0.06; X5 - 50.0.06); G2 - SISTEMA BIORACE^�® DE 25MM DE COMPRIMENTO, SENDO ANALISADOS 03 KITS CONSTITU�DO DE 06 INSTRUMENTOS  CADA (BR0 - 25/0.08; BR1 - 15/0.05; BR2 - 25/0.04; BR3 - 25/0.06; BR4 - 35/0.04; BR5 - 40/0.04); INSTRUMENTOS ENDOD�NTICOS FORAM RETIRADOS DA EMBALAGEM E DIRECIONADOS PARA A ANÁLISE DE FALHAS NA SUPERF�CIE ATIVA EM IMAGENS DE MICROSCOPIA ELETR�NICA DE VARREDURA. PARA DETERMINA��O DAS FALHAS NA SUPERF�CIE DO INSTRUMENTO, DIVIDIU-SE A PARTE ATIVA DE 16MM EM 14 PARTES DE 2,55MM CADA (S1-S7), NOMINADAS SEGUIMENTOS DE 1 AO 7. RESULTADOS: AS FREQU�NCIAS DE DEFEITOS ENCONTRADAS PARA CADA SEGMENTO DOS INSTRUMENTOS ANALISADOS FORAM CRUZADAS COM OS DADOS DO N�MERO DO INSTRUMENTO POR MEIO DO TESTE DO QUI-QUADRADO. OS RESULTADOS MOSTRARAM QUE HOUVE INFLUÊNCIA DE UMA VARI�VEL SOBRE A OUTRA APENAS QUANDO SE ANALISOU O SEGMENTO 1 DO KIT PROTAPER NEXT (P=0,005). O INSTRUMENTO X4 MOSTROU UM N�MERO MAIOR DE FALHAS QUE OS DEMAIS INSTRUMENTOS. A RELAÇÃO ENTRE O N�MERO DE DEFEITOS OBSERVADOS NOS DIFERENTES SISTEMAS DE INSTRUMENTOS FOI AVALIADA PELO TESTE DO QUI-QUADRADO. NÃO FORAM ENCONTRADAS DIFEREN�AS ESTATISTICAMENTE SIGNIFICANTES ENTRE BIORACE E PROTAPER NEXT (P>0,05). CONCLUS�O: AMBOS OS INSTRUMENTOS DOS GRUPOS ANALISADOS APRESENTARAM ALGUM TIPO DE FALHA NA SUPERF�CIE ATIVA.